Resultados de búsqueda - "Reliability (semiconductor)"

Development and Validation of the Social Anomie Brief Scale (SAS-10) Against the New Standards Implemented During the COVID-19 Pandemic por Vilca, Lindsey W., Gonzales, Ricardo D., Pariona-Millán, Vivien, Caycho‐Rodríguez, Tomás, White, Michael

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Academic co-creation: development and validation of a short scale por Ventura‐León, José, Sánchez‐Villena, Andy Rick, Caycho‐Rodríguez, Tomás, White, Michael

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Adaptation and Validation of a Monkeypox Concern Instrument in Peruvian Adults por Mamani-Benito, Oscar, Carranza Esteban, Renzo Felipe, Pichen Fernández, Juan, Apaza Tarqui, Edison Effer, Mejia, Christian R., Alvarez-Risco, Aldo, Del-Aguila-Arcentales, Shyla, Yáñez, Jaime A.

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MEASURING BOREDOM DURING THE COVID-19 PANDEMIC por Ventura‐León, José, Caycho‐Rodríguez, Tomás, Peña-Calero, Brian Norman, White, Michael

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